產(chǎn)品中心
PRODUCTS CENTER當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心三維X射線顯微鏡(XRM)D8多晶X射線衍射儀檢測
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION多晶X射線衍射儀檢測
項目 | 細(xì)則 | 收費(fèi) | 說明 |
單掃一張圖譜 | 看d值,相對強(qiáng)度,不包括物相分析;每樣每次長15min,延長時間按100元15min計,不足15min按15min計 | / | 1.長時間數(shù)據(jù)手機(jī)(大于5h)、復(fù)雜樣品等特殊測試,價格需面議 |
晶胞參數(shù)測定 | 已知的純物相,掃描時間≤30min;掃描時間超過30min,延長時間按200元/30min計,不足30min按30min計 | / | |
晶粒尺寸測定 | 已知的純物相,掃描時間≤30min;掃描時間超過30min,延長時間按200元/30min計,不足30min按30min計 | / | |
高分子結(jié)晶度測試 | 已知的確定物相,掃描時間≤1h;掃描時間超過1h,延長時間按200元/30min計,不足30min按30min計 | / | |
階梯掃描法 | / | / | |
物相半定量 | 僅限于兩種已知物相,掃描時間≤1h;掃描時間大于1h,延長時間按200元/30min計,不足30min按30min計;多出物相,另加100元/相 | / |
多晶X射線衍射儀檢測
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計,通過TWIN-TWIN光路設(shè)計,成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù),使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點(diǎn)光源應(yīng)用(織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司向大家提供保證!
*的林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍,不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率, 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。
倫琴實驗室:400-100-9267 歡迎咨詢
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