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三維X射線顯微鏡 (XRM)SKYSCAN 2214 CMOS版是Bruker新推出的一代全新納米級三維X射線顯微鏡(XRM),除了保留上一代SKYSCAN2214 <500nm的真正三維空間分辨率和多探測器配置(不超過4個)等*性能外,該設(shè)備在X射線源功率和探測器類型方面進(jìn)行了多方面升級,以確保用戶能夠獲得更大的成像視野和更明亮的圖像數(shù)據(jù)。
1) 6KW高強(qiáng)度Cu轉(zhuǎn)靶光源2) 垂直q/qATLAS測角儀Ultra compact design3) Eiger2 R 500k二維探測器4) 液氦低溫系統(tǒng)PheniX cryostat:12K~300K5) 液氮低溫系統(tǒng):MTC-LOWTEMP液氮溫度到450度6) 環(huán)境加熱高溫:MTC-FURNACE室溫-1100度;X射線衍射儀高分辨透射及PDF散射系統(tǒng)檢測
原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化,這對探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段; 科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動力學(xué)分析;分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。高分辨薄膜 X 射線衍射儀檢測
原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化,這對探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段;科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動力學(xué)分析;電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。原位X射線衍射儀檢測
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計,通過TWIN-TWIN光路設(shè)計,成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù),使用戶可以進(jìn)行雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測。
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