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便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID測(cè)試儀（電位誘發(fā)衰減）測(cè)試儀，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無需拆裝，測(cè)試時(shí)間在8小時(shí)之內(nèi)（測(cè)量時(shí)間將少于8小時(shí)）。PIDcheck是與德國(guó)Fraunhofer CSP Halle合作開發(fā)的。
更新時(shí)間：2024-09-12
產(chǎn)品型號(hào)：PID Check
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