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由于XRM技術是一種高質、高效的無損檢測技術，又有無需對樣品進行復雜預處理、操作簡便快捷等優(yōu)點，因此其在食品研究領域具有廣闊的應用前景。目前，XRM技術在食品的應用研究主要集中在對食品微觀結構分析，檢測食品內部缺陷以及新產(chǎn)品配方評估等方面，而隨著技術的發(fā)展和需求的不斷深入，XRM技術還可以用于研究動態(tài)變化過程中視頻微觀結構的變化，為優(yōu)化食品工藝、配方等過程提供理論依據(jù)。實例一不同品牌薯片內部組分分布及含量對比，BrukerSkyscan1275,27um切片圖數(shù)據(jù)，不同灰度值...

鋰離子電池（LIB）作為一種重要的儲能技術，已經(jīng)普遍應用于便攜式電子設備、電動汽車和電網(wǎng)儲能等領域。然而，鋰離子電池技術方面仍然存在諸多挑戰(zhàn)，特別是現(xiàn)有的鋰離子電池電極材料在惡劣條件（如高低溫環(huán)境）下不良的快充特性和安全隱患嚴重阻礙了其在電動汽車領域中的進一步發(fā)展。值得注意的是，如果從LIB的外部或內部加熱或冷卻來改變工作溫度，不僅會增加系統(tǒng)的復雜性，還會降低能源效率和能量/功率密度。因此，研發(fā)一種適用于變溫的新型負極材料以及深入理解其在充放電過程中的電化學變化是當前研究的重...

不同于粉末XRD在藥物研發(fā)后期和生產(chǎn)中的廣泛應用，單晶X射線衍射技術則在藥物研發(fā)的早中期發(fā)揮著重要的用途。單晶X射線分析技術可以獲得被測樣品分子的準確立體結構（構型，構象），特別是單獨完成全未知化合物分子三維結構的確定（相對構型與構型），獲得成鍵原子的鍵長，鍵角以及二面角，分子平面性質等。同時也是確定手性的藥物分子構型，分子立體結構中的差向異構體對的分析技術。此外，在晶型固體化學藥物研究中，單晶X射線分析技術不但能夠提供同質異晶（相同物質不同晶型）樣品的分子排列規(guī)律，同時可以...

薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上。常規(guī)XRD測試，X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米，這遠遠大于薄膜的厚度，導致薄膜的信號會受到襯底的影響（圖1）。另外，隨著衍射角度的增加，X射線在樣品上的照射面積逐漸減小，X射線只能輻射到部分樣品，無法利用整個樣品的體積，衍射信號弱。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffffraction）很好的解絕了以上問題。所謂掠...

XRM技術是在無損狀態(tài)下獲得被檢測斷面的圖像,并利用先進的重構算法重構形成3D圖像,能清晰地揭示器物內部的顯微結構、有無缺陷等信息,基于此特點，該技術已廣泛的應用于考古和文物保護領域,如應用該技術分析古代玻璃珠的制造工藝、古人類遺骸和古動物化石、青銅器的病害等。實例一利用XRM對越南美山圣地建筑材料進行多尺度研究，BrukerSkyscan1172，5-30um.這是XRM技術被用于美山圣地建筑材料的研究。確定了其寺廟建筑材料的結構特點，包括裂縫、孔洞、溶洞、孔隙、礦物顆粒、...

隨著XRM技術的不斷進步與發(fā)展，引入“時間”維度，研究樣品在實際環(huán)境中隨時間而法神機構演變的過程已經(jīng)成為了該技術手段研究的重點與方向。這種外部環(huán)境，可以是拉伸、壓縮、三點彎、四點彎等力學實驗，也可以是高低溫、充放電及化學廠等不同環(huán)境條件。在這個過程中，我們需要借助力學、高低溫等原位實驗臺的輔助，當然，也可以根據(jù)實驗需求進行定制化的原位臺設計。用于4D掃描的原位臺（高低溫、拉伸、壓縮......）大氣條件下，砂巖樣品鹽殼四次“鹽液飽和-干燥”的循環(huán)變化過程.藥物釋藥機制研究：滲...

可充電鋰離子電池(LIB)具有工作電壓高、能量密度大、循環(huán)壽命長、無記憶效應等優(yōu)點，自問世以來已逐漸替代傳統(tǒng)可充電電池（如鉛酸電池、鎳氫電池、鎳鎘電池），并成為現(xiàn)代社會中重要的一部分：由于鋰離子電池在能量密度上有著明顯的優(yōu)勢，它被普遍用于筆記本電腦、智能手機、相機等大多數(shù)移動電子設備；大容量鋰離子電池已在電動汽車中使用，將成為21世紀電動汽車的主要動力電源之一。但是，在電動汽車(EV)或插電式混合動力汽車(PHEV)中使用現(xiàn)有的鋰電技術會帶來一些安全隱患：由于目前市售的鋰離子...

在化學藥物研究中，有一類藥物為手性的藥物，確定藥物手性基團構型是需要解決的關鍵問題，手性問題會直接影響藥物的療效與毒副作用。手性創(chuàng)新藥物指導原則中明確規(guī)定：“手性的藥物分子構型測定的直接方法為單晶X射線結構分析”。對于一般非手性創(chuàng)新藥物而言，也要求有單晶X射線衍射結構分析結果。對于測定分子的構型，目前晶體學界普遍采用是H.D.Flack教授在1983年提出的方法。由于手性晶體對X射線具有反常散射的信號，通過測定反常散射信號，可以計算Flack系數(shù)，進而得到分子的構型。室內衍射...